| 測量功能 |
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| 測量參數(shù) |
|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR |
| 選件001 |
增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測量 |
| 測量電路形式 |
串聯(lián)和并聯(lián) |
| 數(shù)學(xué)功能 |
偏差和百分偏差 |
| 測試電纜長度 |
0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz) |
| 測試信號(hào)數(shù)據(jù) |
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| 測試頻率 |
100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz |
| 選件002 |
增加20kHz測試頻率 |
| 頻率精度 |
±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) |
| 輸出阻抗 |
100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
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| 交流測試信號(hào)電平 |
20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 |
| 精度 |
±（10%+10mV) |
| 內(nèi)部直流偏置 |
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| 電平 |
1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
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| 外部直流偏置 |
0~+2.5V |
| 測量范圍 |
參數(shù)
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測量范圍 |
| |Z|,R,X |
1mΩ-100MΩ |
| |Y|,G,B |
10nS-1000S |
| C |
1pF-1F |
| L |
10nH-100kH |
| D |
0.0001-9.9999 |
| Q |
0.1-9999.9 |
| θ |
-180°~+180° |
| DCR |
1mΩ-100MΩ |
| N |
0.9-200（待定） |
| L,M |
1μH-100H（待定） |
| Δ% |
-999.99%-+999.99% |
| 測量精度： |
±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) |
| 測量時(shí)間 |
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| 模式 |
時(shí)間（典型值） |
| 短 |
25ms |
| 中等 |
65ms |
| 長 |
500ms |
| 測試信號(hào)電平監(jiān)視器： |
電壓和電流 |
| 前端保護(hù)： |
當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。*大電容器電壓為；在
Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。
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| 顯示數(shù)字： |
3，4或5位（可選擇） |
| 修正功能： |
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| 開路/短路誤差為0： |
消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差 |
| 負(fù)載： |
利用一個(gè)已校器件作為參考來改善測量的精度 |
| 比較功能： |
對(duì)每個(gè)一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 |
| 接觸檢查功能： |
可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms |
| 其它功能 |
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| 存儲(chǔ)/調(diào)用： |
可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置 |
| 連續(xù)存儲(chǔ)功能： |
若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來（在23°±5℃下≦72小時(shí)） |
| GPIB接口 |
所有控制設(shè)置，被測值和比較器信息 |
| 處理器接口 |
所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā) |
