·測試種類:常用TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU、及可編程器件等·被測芯片腳數(shù):40腳以下·測試速度:500KHz/Pin·*大輸出電流:每引腳100mA·測試方法:小規(guī)模集成電路(SST)、中規(guī)模集成電路(MSI),與標準庫比較大規(guī)模集成電路(LSI),與自學習庫比較·提供自建測試的編程語言·提供專用電路板元件測試庫(由使用者提出)·顯示方式:圖形顯示(時序波形)、狀態(tài)顯示·V-I特征曲線測試
滬公網(wǎng)安備 31010102004802號