功能特性：
Ø 可檢測(cè)TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合**等缺陷
Ø 具備自動(dòng)對(duì)焦功能，可克服載盤制造公差內(nèi)的高度差異
Ø 檢測(cè)完成后可依設(shè)定規(guī)格挑揀**品
Ø 提供比人工目檢更佳的可靠度及重復(fù)性
Ø 每小時(shí)*高可檢測(cè)3600顆待測(cè)物
Ø 自動(dòng)化上下料盤，減少人員上下料時(shí)間
Ø 提供完整的檢測(cè)資料，包含檢測(cè)數(shù)據(jù)及缺陷影像以供工程分析
技術(shù)參數(shù)：
Chroma 7925為自動(dòng)化TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)，可提供封裝前后的透鏡與金屬外蓋缺陷進(jìn)行檢測(cè)。透過高解析度之鏡頭以及多樣的光源配置，可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由于載盤可能存在制造公差導(dǎo)致待測(cè)物對(duì)焦距離均不相同，Chroma 7925配置了自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，可自動(dòng)計(jì)算待測(cè)物之對(duì)焦距離并進(jìn)行補(bǔ)償，以確?？?/span>以取得清楚的檢測(cè)影像。
使用者可以自由設(shè)定良品與**品之規(guī)則及缺陷編碼，并依據(jù)編碼進(jìn)行挑揀。從上片、檢測(cè)、挑揀及下片均為全自動(dòng)化流程，大幅降低人員操作及制程管理發(fā)生錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)。檢測(cè)完成后，工程師可以取得詳細(xì)的缺陷量化數(shù)據(jù)，以及儲(chǔ)存缺陷影像以利于再判讀。相較于人工目檢無(wú)法保留檢測(cè)資料，使用Chroma 7925所取得之資料，將有助于分析制程問題，并進(jìn)一步提升產(chǎn)品良率。
選購(gòu)附件：
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Model
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Description
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7925
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Model 7925封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)
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主要銷售：LCR測(cè)試儀,,信號(hào)發(fā)生器,數(shù)字存儲(chǔ)示波器,絕緣電阻測(cè)試儀扭力扳手扭矩扳手耐壓測(cè)試儀直流電阻測(cè)試儀數(shù)字電橋等等測(cè)量?jī)x器，測(cè)試儀器，工具等。（點(diǎn)擊關(guān)鍵詞可進(jìn)入相關(guān)產(chǎn)品目錄）扭力測(cè)試儀瓶蓋扭力測(cè)試儀數(shù)字電橋,扭力扳手
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本標(biāo)題頁(yè)面：Model 7925封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)
