方塊電阻測(cè)試儀XX-2型
XX-2型方塊電阻測(cè)試儀是XX型系列四探針方塊電阻測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品,專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
◆ 特點(diǎn)：
1 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定
2 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰
3 采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示
4 體積≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5 可配臺(tái)式探頭和特制之手握式探頭，對(duì)應(yīng)可采用臺(tái)式和手握式操作，使用簡(jiǎn)易
6 帶探頭與被測(cè)物質(zhì)接觸良好指示(LED)
7 單電源開關(guān)，推拉式探頭－主機(jī)接插件，操作極其簡(jiǎn)便。
◆ 技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量范圍 基本量程：方塊電阻1.00-199.99(Ω/口)
擴(kuò)展量程：方塊電阻10.0-1999.9(Ω/口)
測(cè)量不確定度 ≤5%
探針規(guī)格 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
恒流源 測(cè)量過程誤差：≤±0.8%
電源 9V疊層電池1節(jié)
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