| 被測(cè)參數(shù) | |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差 |
| 測(cè)量電路模式 | 串聯(lián)和并聯(lián) |
| 量程轉(zhuǎn)換 | 自動(dòng)和手動(dòng) |
| 觸發(fā) | 內(nèi)部、外部和總線（HP-IB） |
| 延遲時(shí)間 | 0-60.00s以1ms步進(jìn) |
| 測(cè)量終端 | 四端對(duì) |
| 測(cè)試電纜長(zhǎng)度 | 0、1和2 |
| 積分時(shí)間： | 短、中等和長(zhǎng) |
| 取平均： | 1-256可程控 |
| 測(cè)試信號(hào)： | 75kHz-30MHz±0.01%8610以100Hz步進(jìn) |
| 測(cè)試信號(hào)方式： | |
| 標(biāo)準(zhǔn)： | 分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程 |
| 恒定： | 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān) |
| 測(cè)試信號(hào)： | | 電平 | 標(biāo)準(zhǔn) | 恒定 | | 4285A | 5mV~2V,200μA-20mA | 10mV-1V,100μA-20mA |
|
| 直流偏置： |
選件：0V-±40V |
| 測(cè)量顯示范圍 | | 參數(shù) | 范圍 | | |Z|,R,X | 0.01mΩ-99.9999MΩ | | |Y|,G,B | 0.01nS-99.9999S | | C | HP
4284A:0.01fF-9.9999F | | L | HP 4284A:0.01nH-99.9999kH | | D | 0.000001-9.99999 | | Q | 0.01-99999.9 | | θ | -180.000°~180.000° | | Δ% | -999.999%~999.999% |
|
| 基本測(cè)量精度 | |
| 補(bǔ)充特性： | |
| 測(cè)量時(shí)間： | 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間 |
| 短 | 30ms |
| 中等 | 65ms |
| 長(zhǎng) | 200ms |
| 選件001直流偏流輸出 | 100mA
max |
| 顯示器： | |
| LCD點(diǎn)陣顯示： | 顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示 |
| 修正功能 | 開路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 |
| 接負(fù)載： | 利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度 |
| 列表掃描功能 | *多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程。可進(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試 |
比較器
| 10倉(cāng)室（ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù) |
| 倉(cāng)室計(jì)數(shù)： | 0-999999
|
| 列表掃描比較器： | 高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)
|
| 其它功能： | |
| 存儲(chǔ)/加載： |
10個(gè)儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)儲(chǔ)存卡存儲(chǔ)/加載 |
| HP-IB | 所有儀器控制設(shè)置，被測(cè)值，比較極限，列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果 |
| 存儲(chǔ)器： | 存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)*多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)，ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式 |
