被測參數(shù) |
|Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差 |
測量電路模式 |
串聯(lián)和并聯(lián) |
量程轉(zhuǎn)換 |
自動和手動 |
觸發(fā) |
內(nèi)部、外部和總線(HP-IB) |
延遲時間 |
0-60.00s以1ms步進 |
測量終端 |
四端對 |
測試電纜長度 |
標(biāo)準(zhǔn):0和1m;帶選件006時:0、1、2和4m |
積分時間: |
短、中等和長 |
取平均: |
1-256可程控 |
測試信號: |
20Hz-1MHz±0.01%8610個可選擇頻率 |
測試信號方式: |
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標(biāo)準(zhǔn): |
分別在開路或短路的測量端,而不是在被測件上對選一的電壓或電流編程 |
恒定: |
維持被測件上選定的電壓或電流,而與器件阻抗和變化無關(guān) |
測試信號: |
電平 |
標(biāo)準(zhǔn) |
恒定 |
4284A |
5mV~2V,50μA-20mA |
10mV-1V,100μA-10mA |
選件001 |
5mV~2V,50μA-200mA |
10mV-10V,100μA-100mA |
|
直流偏置: |
標(biāo)準(zhǔn):0V,1.5V和2V
選件:0V-±40V |
測量顯示范圍 |
參數(shù) |
范圍 |
|Z|,R,X |
0.01mΩ-99.9999MΩ |
|Y|,G,B |
0.01nS-99.9999S |
C |
HP
4284A:0.01fF-9.9999F |
L |
HP 4284A:0.01nH-99.9999kH |
D |
0.000001-9.99999 |
Q |
0.01-99999.9 |
θ |
-180.000°~180.000° |
Δ% |
-999.999%~999.999% |
|
基本測量精度 |
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補充特性: |
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測量時間: |
從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測量(EOM)輸出的典型測量時間 |
短 |
40ms |
中等 |
190ms |
長 |
830ms |
選件001直流偏流輸出 |
100mA
max |
顯示器: |
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LCD點陣顯示: |
顯示被測值,控制設(shè)置,比較極限和判決,列表掃描表,自測試信息和信號指示 |
修正功能 |
開路/短路誤差為0:消除由測試夾具雜散寄生阻抗引起的測量誤差 |
接負(fù)載: |
利用已校器件作為參考來改善測量精度 |
列表掃描功能 |
*多可對10個頻率或測試信號電平編程??蛇M行單次測試或順序測試,當(dāng)安裝上選件001時,還能進行直流偏壓測試 |
比較器
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10倉室(ten-bin)分類用于一次測量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測量參數(shù) |
倉室計數(shù): |
0-999999
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列表掃描比較器: |
高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個測量點
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其它功能: |
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存儲/加載: |
10個儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲器存儲/加載。10個附加設(shè)置還能由一個儲存卡存儲/加載 |
HP-IB |
所有儀器控制設(shè)置,被測值,比較極限,列表掃描表和自測試結(jié)果 |
存儲器: |
存儲緩存器能存儲*多128個測量結(jié)果,并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù),ASCII和64位二進制數(shù)據(jù)格式 |